PCT飽和蒸汽試驗箱適用于國防、航空航天、汽車零部件、電子零配件、塑料、磁體工業、制藥、電路板、多層電路板、ic、LCD、磁體、照明、照明產品等產品的密封性能測試。，并對相關產品進行加速壽命測試，用于產品的設計階段，用于快速暴露產品的缺陷和薄弱環節。測試其產品的耐厭氧性和氣密性。測試半導體封裝的防潮能力。待測產品在惡劣的溫度、濕度和壓力下測試時，水分會沿著膠體或膠體與引線框的界面滲入封裝內。常見的故障模式是有源金屬化區域腐蝕導致的開路，或封裝引腳之間污染導致的短路。加速老化壽命試驗的目的是增加環境應力(如溫度)和工作應力(施加在產品上的電壓和負載等)。)，加快測試過程，縮短產品或系統的壽命測試時間。
PCT測試箱使用:該設備主要用于航空、航天、電子、國防、科研等工業部門在溫度、濕度、低壓等單一或復雜環境條件下確定的電氣電子產品(包括元器件、材料、儀表)的儲運等可靠性試驗。
 PCT飽和蒸汽壓力試驗箱使用范圍
PCT試驗箱主要參數:
內部尺寸:60 * 80 * 85厘米。
溫度范圍:LPT:-70~+160℃LPTH:(環境溫度+20)℃~+160℃。
濕度范圍:10 ~ 98%相對濕度
壓力范圍:正常壓力:0.5千帕
溫度波動:≤ 0.5℃(常壓下)。
溫度均勻性:≤ 2℃(常壓下)。
濕度波動:≤ 2% r.h(正常壓力下)。
濕度均勻性:≤ 3%相對濕度(相對濕度> 75%相對濕度時)；≤ 5%相對濕度(相對濕度≤75%相對濕度時)。
壓力偏差:≤ 2kpa (≥ 40kpa)、≤ 5%(在2 ~ 40kpa時)、≤ 0.1kpa(在≤ 2kpa時)。
加熱時間為25℃(常溫)→+160℃≤60分鐘(常壓)。
冷卻時間:(限LPT型)+25→-65℃(常壓下)。
PCT試驗箱性能參數測試:
1.在開發階段，用于暴露試制產品各方面的缺陷，評估產品達到預定目標的可靠性；
2.生產階段為監控生產過程提供信息；
3.對終產品進行可靠性評估或驗收；
4.揭示和分析產品在不同環境和應力條件下的失效規律及相關失效模式和失效機理；
5.提高產品可靠性，制定和完善可靠性試驗方案，為用戶選擇產品提供依據。