電子元器件的低壓測試條件有哪些？
1)測試空氣壓力
GJb 548列出了A、B、C、D、E、F、G7不同工況下的高空氣壓值，給定的試驗工況具有一定的規律性。隨著飛行高度由低到高，氣壓值由大變小。GJb 360給出了A、B、C、D、E、F、G、H、I、10種不同條件下的高度氣壓值，所列的高度-氣壓表中的試驗條件從A到E有一定的規律性，隨著飛行高度從低到高，氣壓值由大到小變化，但從試驗條件F到試驗條件j沒有規律性，與GJb 548所列的試驗條件相比， GJb 360的試驗條件在試驗條件J上增加了條件H，對應的氣壓高度條件為:H:3000m 70 kPa； j:18000米，7、6千帕；克:25000米，2、5千帕。
2)測試時間
GJb 360B-2009規定:
除非另有規定，測試樣品在低氣壓下的測試時間可從以下值中選擇:
5min、30min、1h、2h、4h和16h。

3)壓力增減率
一般不超過10kPa/min。
測試設備
低壓試驗的主要設備是高低溫低壓試驗箱。儲運可靠性試驗可在高溫、低氣壓的單一或同時作用下進行，試件可同時通電測試電氣性能參數。
低壓試驗箱
溫度范圍:-40~150℃
環境溫度:+5 ~+30℃
內箱尺寸:1000 * 1000 * 1000毫米
廠家設備優勢
1.獨特的平衡溫度調節方法，使設備具有高精度、高穩定性的溫度控制；
2.低壓試驗箱設有氮氣進氣孔，便于樣品的非氧化測試；
3.調節器采用高精度、高穩定性的PID自整定和液晶顯示，保證設備的穩定控制；
4.具有超溫保護、語音提示、定時功能。當計時結束或報警結束時，電源會自動切斷，停止設備運行，保證設備和人員的安全。