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PCT測試儀器常見的故障模式是什么？

PCT測試儀主要用于測試半導體封裝的吸濕能力。當被測產品在惡劣的溫度、濕度和壓力下測試時，水分會沿膠體或膠體與引線框架的界面滲入封裝。常見的故障模式是有源金屬化區域腐蝕導致的開路或污染導致的封裝引腳之間的短路。廣泛用于測試印刷電路板、多層印刷電路板、IC、LCD、稀土材料、釹鐵硼、磁鐵等產品的密封性能，測試其產品的耐壓性和氣密性。加速壽命試驗的目的是增加環境應力(如溫度)和工作應力(如施加在產品上的電壓和負載)，加快試驗過程，縮短產品或系統的壽命試驗時間。
內部尺寸:φ300×D450(mm)
外箱尺寸:W660×H1050×D1250 (mm)
內盒材料:SUS 304#不銹鋼板。
材料:烤漆或不銹鋼。
溫度范圍:100℃ ~ 132℃(飽和蒸汽溫度)。
濕度范圍:**RH。(飽和蒸汽濕度)。
壓力范圍:0.2 kg/cm2 ~ 2.4 kg/cm2控制點壓力。
時間范圍:0 ~ 999小時可調。
溫度分布:(+/-)2.0℃。
加熱時間:RT ~ 132℃約45分鐘(控制點溫度)。
加壓時間:0.0Kg/cm2 ~ 2.0Kg/cm2，約40分鐘(控制點壓力)。

PCT測試儀器常見的故障模式是什么？

控制對象:微機+P.I.D.+S.S.R自動計算控制飽和蒸汽溫度。
控制方式:微電腦PID控制。
技術要點包括:密封作用、安全性能、操作方式。密封作用:愛思力公司設計的背壓式PCT高壓老化試驗箱，依靠箱內的壓力來緊密關閉通向內箱的門，達到良好的密封作用。當箱內壓力為0.1MPa時，內箱會剛好以0.1MPa的力關門，達到良好的密封作用，無需額外壓力即可輕松完成；當箱內壓力為0.2MPa時，內箱會以0.2MPa的吸力關門，整個密封過程基本靠設備自身實現。
安全性能:在測試過程中，隨著箱內壓力的增加，反壓門扣會自動鎖死，箱門無法打開，可以更有效地防止操作人員無意打開的危險。當箱內壓力排出后，反壓門扣會自動解鎖，真正起到了門禁的作用。
操作方式:平面反壓門設計，用戶關門時只需逆時針旋轉把手180度，其余由設備自動完成。安全、方便、快捷、有效！
控制精度:(+/-)0.5℃。分析精度:0.1℃。

產品特點:
1.具有自動加水功能，測試時水位過低可自動補水；
2.LED數字溫度控制器可設定、控制和顯示準確的測試溫度；
3.LED數字定時器，當鍋內溫度達到時開始計時，確保測試完成；
4.準確的壓力/溫度計可以隨時顯示鍋內的壓力和相對溫度；
5.運行時，流水裝置自動排出不飽和蒸汽，達到蒸汽品質；
6.一體式硅膠門墊，氣體密度好，使用壽命長；
7.試驗箱經拋光處理后耐用、美觀、無污染；
8.鍋內安全裝置:鍋門未關好，機器無法啟動；
9.安全閥:當鍋內壓力超過工作值時，自動排氣泄壓；
10、雙重過熱保護裝置，當鍋內溫度過高時，機器嘟嘟報警并自切斷加熱電源；
11.門蓋保護:ABS材料可防止操作者被接觸燙。

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