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    pct高壓加速老化試驗箱有哪些指標?
    pct高壓加速老化試驗箱技術性能指標
    1.溫度范圍:+110℃ ~+132℃。
    2.溫度波動:0和5℃。
    3.溫度均勻性:1,5℃。
    4.濕度范圍:%R和H飽和蒸汽。
    5.濕度波動:1 . 5% R,h。
    6.濕度均勻性:3 . 0% R,h。
    7.壓力范圍:
    相對壓力:+0 ~ 2 kg/cm2。(注:可產生的壓力范圍:+0 ~ 3kg/cm2)。
    相對壓力:1,0 kg/cm2 ~ 3,0 kg/cm2。
    安全承壓能力:4kg/cm2=1個環境大氣壓+3kg/cm2。
    8.循環方式:水蒸氣自然對流循環。
    9.時間設置:0 ~ 999小時
    10.加壓時間:0,00 kg/cm2 ~ 2,00 kg/cm2,約30分鐘。
    12.升溫時間:從常溫到+132℃約30分鐘,無非線性負載。
    13.溫度變化率是平均氣溫變化率,而不是產品溫度變化率。
    14.測試內箱的容積可以選擇:

    注意:
    1.在無測試負載和無貨架條件下穩定30分鐘后測得的性能。
    2.升降溫時間是指環境溫度為26℃±5℃時,風冷型的實測性能。
    3.溫濕度傳感器設置在空調箱的出風口。
    4.溫濕度均勻度定義為在該溫度和濕度下,實驗室幾何中心的測量數據。
    5.以上數據的性能、測量和計算方法參照GB5170、GB 2、GB5170和GB5確定。

    pct高壓加速老化試驗箱有哪些指標?

    pct高壓加速老化試驗箱的特點:
    1.內外箱采用304不銹鋼板,圓形內箱,不銹鋼圓形試驗內箱,符合工業安全容器標準,可防止試驗過程中的結露和滴漏。
    2.圓形內襯,不銹鋼圓形內襯設計,可避免蒸汽潛熱直接沖擊樣品。
    3.設計可靠,氣密性好,用水量小,每次加水可持續200h。
    4.自動門禁,圓門溫度壓力自動檢測,安全門禁鎖定控制,安全門手柄設計,箱內壓力超過正常壓力時,測試人員會受到反壓力保護。
    5.專利包裝。當箱內壓力較大時,填料會有反壓力,使其與箱結合更緊密。它全不同于傳統的擠壓式,可以延長填料壽命。
    6.實驗前的真空作用可以抽出原箱中的空氣,吸入經濾芯過濾后的新鮮空氣(微粒
    7.臨界點上下限模式用于自動安全保護,顯示異常原因和故障指示。

    Pct高壓加速老化試驗箱用途:
    Pct稀土老化測試儀又稱高壓加速老化測試儀,適用于測試國防、汽車零部件、電子零件、塑料、磁鐵工業、制藥電路板、多層電路板、ic、LCD、磁鐵、燈飾、照明產品等產品的密封性能。相關產品經過加速壽命試驗、高壓老化箱、三重綜合試驗機。

    pct高壓加速老化試驗箱的實施與達標
    1.GB/T10586-1989濕熱實驗室技術條件;
    2.GB2423,3-93(IEC68-2-3)恒定濕熱試驗;
    3.MIL-STD810D方法502,2;
    4.GJB150,9-8溫濕度測試;
    5.GB2423,34-86,MIL-STD883C法1004,2溫度、濕度、高壓聯合試驗;


    特點:
    ★全自動操作模式,自行操作,無需人員操作更加快捷方便。
    ★有三重壓力安全保護裝置,保護更好,采用兩級超溫保護、控制器內部機械壓力等先進保護裝置。
    ★安全保護和壓力切割可手動操作。出現異常時,可通過緊急安全裝置進行兩級自動壓力切割。
    ★、LED數字溫度控制器這種先進的控制器在溫度控制方面有較好的精度能力。它能準確地設定、控制和顯示試驗溫度,通過PID控制,誤差減小到±0.1℃。
    ★采用LED數字定時器,當鍋內溫度達到時開始計時,更好的保證實驗的安全性和穩定性。

    高壓加速老化試驗箱
    1.這種高壓加速老化試驗箱由先進的進口微電腦控制,可以更方便地控制飽和蒸汽溫度,特別是在微電腦P.I.D .的控制上,更便于自動計算和控制飽和蒸汽溫度。
    2.高壓加速老化箱使用指針顯示正負壓力表,以便更好地查看數據。時間控制器采用先進的進口LED顯示屏和自動水位控制器,即使水位不足也能報警。
    3.在高壓加速老化試驗箱的圓形內箱中,內部結構采用不銹鋼,全符合工業安全容器的標準,可以放心使用和操作,并采用了良好的設計來防止試驗中的結露和滴漏。
    4.采用了較好的圓形設計和圓形測試內盒結構。這種設計可以防止或避免高壓加速老化試驗箱中蒸汽的潛熱直接沖擊試樣,造成試樣的損壞,起到很好的保護作用。

    PCT加速老化試驗箱主要用于測試半導體封裝的吸濕能力。當被測產品在惡劣的溫度、濕度和壓力下測試時,水分會沿膠體或膠體與引線框架的界面滲入封裝。常見的失效模式是有源金屬化區域腐蝕導致的開路,或污染導致的封裝引腳間短路等。廣泛用于測試印刷電路板、多層印刷電路板、IC、LCD、磁鐵等產品的密封性能,測試其產品的耐壓性和氣密性。加速壽命試驗的目的是改善環境應力和工作應力,加快試驗進程,縮短產品或系統的壽命試驗時間。
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